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【粒子径・ゼータ電位】粒子径・ゼータ電位測定装置 ゼータサイザーシリーズ

2019/02/22 Posted by

nanotech 2019のパネルデータをご紹介します。ナノテクノロジーの研究・開発・品質管理に貢献する、粒子径、ゼータ電位、分子量の計測が可能なゼータサイザーナノシリーズ。さまざまな粒子計測に関わる複雑な機能も、シンプルなオペレーションで使用可能な、機能性に富んだ装置です。


粒子径測定の新アルゴリズムを搭載、

より簡便なソフトウェアにて直感的に操作 

粒子径・ゼータ電位測定装置 ゼータサイザーシリーズ

対応アプリケーション

ナノ粒子、ミセル、インク、DDS、タンパク質、CNT、CNF、高分子

特長

  • 凝集・粗大粒子の影響を最小化
  • MADLSによって、高分解能で粒子径を測定
  • 光学フィルタを標準搭載

パラメータ:粒子径、ゼータ電位、個数濃度
測定範囲:0.3 nm-10 μm(粒子径)
     3.8 nm-100 μm(ゼータ電位)

MADLSによる高分解能測定


従来のDLSでは粒子径に3倍以上の差がないとピーク分解できませんでしたが、多角度でのDLS測定を実施し、角度依存、散乱光のノイズの影響を確認することで、分解能が向上。2倍差でもピークを分けることが可能に。
※データは150 nm+300 nmのラテックス混合サンプル

粒子径測定範囲上限の精度が向上


粒子径測定用ディスポーザブルキャピラリーセルを使用することで、ミクロンサイズの粒子の測定精度が向上

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