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粉体工業展セミナー予告:【粉体の純度や劣化評価に】はじめよう!卓上型XRD-Aeris

2018/11/16 Posted by

【粉体 × X線分析】POWTEXで新しいアプリケーションをご提案します!


マルバーン・パナリティカルは、今年も粉体工業展(POWTEX)に出展いたします。出展概要はこちら

昨年の粉体工業展までは、「マルバーン事業部」として粒子計測に関する製品をご提案してきました。2018年からは、「マルバーン・パナリティカル事業部」として、X線分析装置を使ったアプリケーションもご提案します。

元素分析が可能な蛍光X線分析装置、さらに結晶多形、化合物の同定、結晶化度の分析が可能な卓上型X線回折装置も展示しますので、是非お立ち寄りください。

粉体工業展東京 2018 製品技術セミナー
今回、粉体工業展で初めて、XRDに関する製品技術セミナーを行います。混合物試料中の微量成分の測定事例や、リーベルト解析の結果を、実データを用いてご紹介します。また、初心者の方でもXRDで何ができるのか操作手順もイメージしていただける内容になっています。

【粉体の純度や劣化評価に】はじめよう!卓上型XRD-Aeris 

  • 日時:11月29日(木)15時30分~16時
  • 場所:Dルーム 
  • 概要:X線回折は結晶構造を調べたい手法かな?というイメージをお持ちの方にぜひご紹介したい定量アプリケーション。金属粉の酸化割合や製剤中の原薬濃度が、XRDなら非破壊で求められます。すぐに使える「粉末卓上型XRD Aeris(エアリス)」をどうぞ!


「粉体そのもの」の評価ができるXRD


レーザ回折式粒子径分布測定装置マスターサイザー3000粒子画像フォロギ4は、粒子の大きさ、形状を評価してきました。

今回初めて展示する
X線回折装置(XRD)では、
「粉体そのもの」の評価ができます。

たとえば・・・

  • 粉体を何種類か混合した材料
  • 微量の触媒や添加剤
  • 金属粉の純度と酸化物の割合
  • ラベルのない未知の粉体 など。

さらに、サンプル調製・測定手順共に3ステップと言う手軽さで測定ができます。


XRDで得られるスペクトル例

是非11/29(木)のXRDセミナーにお越しください!




このほか、従来どおり、粒子計測のテーマでもセミナーがございますので、あわせてご参加ください。

その他の粉体工業展2018 製品技術説明会

【新しい視点で!】画像解析でμm~nmまで粒子を識別・解析! 

  • 日時:11月28日(水)14時45分~15時15分
  • 場所:Dルーム 
  • 概要:
    一般用途の粉体中の粒子は混合物であり、粒子径以外にも物質、物性としての分布を持ちます。今回、私たちは画像解析技術などを基軸とし、粒子を「識別」して分布の「内容」を解析事例を紹介します。

プローブタイプの粒子計測で簡単に測れる! 攪拌造粒や溶液中の粒子の測定事例ご紹介


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